1、GB/T3984.2-2004/IEC TS60110-2:2000感应加热装置用电力电容器第2部分：老化试验、破坏试验和内部熔丝隔离要求1总则1.1范围GB/T3984的本部分适用于符合GB/T3984.1一2004的电容器，并给出了这些电容器的老化试验和破坏试验的要求，以及内部熔丝隔离试验的要求。注：本部分中章和节的箱号与GB)T3984.1一2004的相对应，1.2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T3984本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的
2、最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T3984.1一2004感应加热装置用电力电容器第1部分总则(1EC60110-1:1998,DT)1.3定义本部分采用GB/T3984.1一2004中列出的所有定义。2质量要求和试验2.15老化试验老化试验是为了验证在提高的温度和电场强度下所造成的加速损坏不会引包介质过早击穿而进行的型式试验。除非另有规定，试脸和测量用电压的频率应为50Hz或60Hz。老化试验应对至少两单元进行。试验单元可为生产单元或模型单元，模型单元在老化试验所要检验的性能方面与生产单元是等效的。对模型单元设计的限制在附录B中详细叙述。2.15.1试验准备和初
3、始测量老化试验期间介质的温度应至少等于铭牌上规定的冷却媒质的上限温度加上生产单元在热稳定试验结束时测得的介质温升，或60，取两者中较高者。在该试验过程中，应将试验单元放入一个强迫空气循环的烘箱中，其端子竖立向上垂直放置，调节烘箱环境温度使介质能达到所要求的温度。该环境温度应保持恒定，允许波动范围为一2K十5K。在施加电压前，应将试验单元在这一温度下稳定至少12h。然后应在相同的温度下对单元施加U、。测量电容和损耗角正切（见GB/T3984.1一2004的2.3和2.4)。注：介质温度可用热电偶测量，或者根据热稳定试验结束时测得的电容用电容与温度的关系曲线来估算，或从以前确定的内部温度和外部温度
4、之间的关系来估算，例如使用JB/T8957中所述的由电阻性模拟电容器得出的内部温度和外部温度之间的关系，2.15.2试验方法单元应在工频1.25U、下通电1000h,或在1.35U、下通电500h,由制造厂选择。由于本试验的持续时间长，因此允许电压中断。在电压中断期间，单元应保持在可控制的环境温度中。如果烘箱断电，则在单元重新施加电压前应再放置至少12，使其再次达到环境温度。1GB/T3984.2-2004/ECTS60110-2:20002.15.3最后电容和损耗角正切测量在完成老化试验的两天内，应在相同温度、相同电压和相同频率下重复2.15.1的测量，2.15.4验收准则如果没有发生击穿，
5、则认为试验单元成功地通过了老化试验。电容测量值与2.15,1的测量值之差，对于非自愈式电容器应不大于相当于一个元件击穿或一根内部熔丝动作之量，对于自愈式电容器应不大于2%。损耗角正切测量值应不超过制造厂所述的最大值。当对两单元进行试验时，应没有单元损坏（击穿、过大的电容变化或超限值的损耗角正切）方可接受，当对三单元进行试验时，有一单元损坏可以接受。2.16破坏试验这类电容器大多数已传统上采用内部熔丝、压力指示器或隔离器加以保护。对于调谐回路（换流器）用的高频非自愈式电容器，可制成没有任何保护的装置：由回路的失指而断开电源回路来提供保护。破坏试验不适用于这类电容器。本试验也不适用于具有内部熔丝的
6、非自愈式电容器，对内部熔丝进行隔离试验（见2.17）。除调谐回路用高频电容器外，如果没有装设内部熔丝，或如果电容器为自愈式的，则必须按下列程序进行破坏试验。2.16.1试验程序试验应对电容器单元进行。当由制造厂确定时，可以使用已通过老化试验的单元。试验的原理是用高内阻的直流电源促使元件损坏，随后施加交流电压，检验电容器的性能。对于没有内部熔丝的非自愈式电容器可以按附录A中给出的各种方法来促使元件损坏。制造厂选择其中之一。电容器应放置在具有温度等于电容器温度类别最高环境空气温度的空气循环的烘箱中，当电容器的所有部分均达到烘箱的温度后，按图1给出的电路进行下面的试验程序。如果电容器是用过压力指示器代替图1中的熔断器来进行保护的，则应使用由过压力指示器控制的断路器。带有温度开关或制造厂与用户商定的其他指示器者，应采用同样的方法。a)将选择开关H和K分别置于位置1和a,将交流电源电压整定到1.3Ux,并记录电容器电流。)将直流电源电压整定到制造厂所述的值，然后将开关H置于位置2，调节可变电阻器使直流短路电流为300mA。)将开关H置于位置3，开关K置于位置b,对电容器施加直流试验电压。维持该状态，直到电压表V指示大约为零，并保持3s5s为止。d)然后将开关K置于位置a,再次对电容器施加试验电压(1.3U),历时5min,在此期间再次记录电流。d.e.)ac.)图1进行破坏试验的电路
