电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定 GBT 5594.8-1985.pdf

UDC621.315.612:621.382/.387.620.1B中华人民共和国国家标准GB5594.8-85电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定Test methods for properties ofstructure ceramic used in electronic componentsDetermination of microstructure1985-11-27发布1986-12-01实施国家标准局批准