GB/T22586-2008/1EC61788-7:2006目次前言引言年3113938年909839作09男8背W1范围2规范性引用文件13术语和定义4要求5装置5.1测试系统5.2Rs测试腔体25.3介质注书年等作事第第第g第9g年年等第作事第g第9书26测试步骤6.1样品准备46.2系统构建46.3参考电平的测试46。生谐振器频响特性的测试6.5超导薄膜的表面电阻Rs、标准蓝宝石柱的e和1an的确定67测试方法的精密度和精确度77.1表面电阻77.2t温度77.3样品和支撑结构87.4样品的保护8测试报告68.1被测样品的标识88.2R驾值报告88.3测试条件报告附录A(资料性附录)与第1章一第8章相关的附加资料9参考文献图1使用制冷机测试Rs随温度变化特性的装置图2图2典型的Rs测试腔体示意图图3T(K)温度下的插人损耗IA、谐振频率f。和半功率点带宽f5图4反射系数(11和S2双）6图5表4中术语的定义7图A,1各种测量微波表面电阻R5方法结构示意图9图A.2两端由两片沉积在介质基片上的超导薄膜短路圆柱形介质#振器的几何结构11图A3TEo1模式的-U和W-关系的计算结果11图A.4测量Rs、a0的标准介质柱的电磁场结构12图A,5三种形式的谐振器的结构示意图”图A.6设计平行超导薄膜两端短路的TEo谐振器的模式图2o13
