1、GB/T12085.3-2010本部分由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口，本部分起草单位：宁波永新光学股份有限公司、上海理工大学。本部分主要起草人：曾丽珠、章慧贤、冯琼辉、张燕珂。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：-GB/T12085.3-1989。GB/T12085.3-2010光学和光学仪器环境试验方法第3部分：机械作用力1范围本部分规定了机被作用力试验的试验条件、条件试验及环境试验标记本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本试验目的是研究试样的光学、热学、力学、化学及电学等特性受到机械作用力影响的变化程度。2规范性引用文件下列文件中的条款通
2、过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GB/T12085.1光学和光学仪器环境试验方法第1部分：术语、试验范围(GB/T12085.1一2010,1S09022-1:1994,M0D)GB/T2423.10电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验F：振动（正弦）(GB/T2423.10一2008，IEC60068-2-6:1995,DT)GB/T2423.15电工电子产品环境试
3、验第2部分：试验方法试验Ca和导则：稳态加速度(GB/T2423.15一2008，IEC60068-2-7:19861DT)GB/T2423.5电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ea和导则：冲击(GB/T2423.5-1995,idt IEC60068-2-27:1987)GB/T2423.6电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Eb和导则：碰撞(GB/T2423.6一1995，idt1EC60068-2-29:1987)GB/T2423.7电工电子产品环境试验第二部分：试验方法试验Ec和导则：倾跌与翻倒（主要用于设备型样品)(GB/T2423.7一1995，idt1EC60068
4、-2-31:1982)GB/T2423.8电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验E和导则：自由跌落(GB/T2423.8-1995,idt IEC60068-2-32:1990)GB/T2423.43电工电子产品环境试验第2部分：试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装(GB/T2423.43一2008,1EC60068-2-47:2005,1DT)GB/T2423.39电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验EC:弹跳(GB/T2423.39一2008,IEC60068-2-55:1987,M0D)GB/T2423.56电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh:宽带随机振动（数字控制)和导则(GB/T2423.56-2006,IE60068-2-64：1993，IDT)3试验条件试验将在环绕大气条件下按GB/T12085.1及表1所列国家标准执行，试样按GB/T2423.43安置在试验装置上（冲击机、加速装置或电磁震荡器）。注：采用的自由落体加速度g值取整数近似为10m/s。
