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工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法 GBT 14849.5-2014.pdf

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资源描述

1、GB/T14849.5-2014前言GB/T14849%工业硅化学分析方法分为9个部分:一第1部分:铁含量的测定1,10-二氨杂菲分光光度法:一第2部分:铝含量的测定铬天青-S分光光度法:一第3部分:钙含量的测定火焰原子吸收光谱法、偶氨氯膦I分光光度法,一第4部分:杂质元素含量的测定电感制合等离子体原子发射光谱:一第5部分:杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法:一第6部分:碳含量的测定红外吸收法:一第7部分:磷含量的测定钼蓝分光光度法:一第8部分:铜含量的测定PADAP分光光度法:一第9部分:钛含量的测定二安替比林甲烷分光光度法。本部分为GB/T14849的第5部分。本部分按照GB/T1.1一2

2、009给出的规则起草。本部分代替GB/T14849.5一2010%工业硅化学分析方法第5部分:元素含量的测定X射线荧光光谱法。本部分与GB/T14849.5一2010相比,主要有如下变动:一增加了规范性引用文件;一增加了锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴的检测:一样品应破碎通过0.074mm筛,改为应能通过0.149mm标准筛;一将粘结剂明酸改为淀粉或硼酸将试料中压片压力20kN,保压时间20s,改为301压力下保压30s:一补充了重复性限及再现性限,增加了试验报告。本部分由全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)归口。本部分负责起草单位:昆明治金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司。本部分参加起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院、通标标准技术服务有限公司、包头铝业有限公司、蓝星硅材料有限公司、昆明治研新材料股份有限公司、云南出入境检验检疫局。本部分主要起草人:刘英波、赵德平、扬海岸、周杰、杨毅、张爱玲、胡智皮、张晓平、刘汉士、刘维理、马启坤、唐飞、白万里、王宏磊、常智杰、聂恒声、金波、王云舟。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:-GB/T14849.5-2010.

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