1、GB/T6040-20193.8合频峰combination bands在两个基烦峰波数之和或差出现的吸收峰。3.9干涉图形interferogram利用迈克尔逊干涉仪得到的信号，横轴为光的光程差，纵轴为光的强度所显示的图形。3.10变迹函数podi7 ation为了诚少因干涉仪的扫描距离有限而产生的复原光谱的崎变，在干涉图形上进行适当参数重叠的数学操作。3.11傅立叶退卷积fourier self-deconvolution就是将卷积得到的实际光谱退卷积，即将实测光谱重新变成干涉图，然后再选择一个合适的变迹函数与干涉图相乘，再重新进行傅立叶变换的运算。3.12K-M变换kubelka-nun
2、k transformation把漫反射法测定的光谱变换成吸收光谱的方法。3.13K-K变换kubelka-kroning transformation把测定的镜面反射光谱变换成吸收光谱的方法。3.14镜面反射法specular reflection method用于测定表面改性的样品、树脂和聚合物薄膜等，是红外光束以某一入射角照射在样品上发生的反射，反射角等于入射角。3.15衰减全反射法attenuated total reflection method用于高吸收样品或样品表面的测定方法，红外光以大于临界角的角度入射到紧贴在样品表面的高折射指数晶体时，由于样品折光指数低于品体，发生全反射，红
3、外光只进人样品极浅的表层，只有某些频率被吸收，测量这一被衰减了的辐射即得到样品的衰诚全反射光谱。注：衰减全反射，简称ATR3.16漫反射法diffuse reflection method用于测量粉末状样品。红外光照射到粉末样品表层时，一部分光会在表层样品颗粒外部产生镜面反射，由于镜面反射光束没有进人样品颗粒内部，未与样品发生作用，所以这部分镜面反射光不负载样品任何信息。另一部分光会射入样品颗粒内部，经过透射或折射或在颗粒内表面反射后，从样品内部射出。这样，光束在不同样品颗粒内部经过多次的透射、折射和反射后，从样品粉末表面各个方向射出来，组成反射光。测量这部分与样品发生了相互作用的反射光的辐射即得到样品的漫反射光谱。3.17电比率法electric ratio method在多光束红外光谱仪中，对样品光束与参比光束的光通量的电信号进行比较的方法。
