GB/T34954.1-2017/1EC/TR62240-1:2013目次前言引言N】范围2规范性引用文件3术语、定义和缩略语31术语和定义3,2缩略语4选用规定4.1总则44444444444*4.2器件选择、使用和替代4,21通则.44,22选择4.23器件工艺.44.2.4遵循电子器件管理计划4.3器件性能评估54.31通则54,3.2器件封装及内部结构性能评估54,3.3风险评估（装配级）543.4器件升额方法54,3.5器件可靠性保证74,4更究温度范围内的器件质量保证4,4.1通则74,42器件参数重估测试74.4.3器件参数一致性测试生44更高装配级测试74.4.5半导体器件变更监测84,4.6失效数据收集和分析448444444.5形成文档84.6器件标识A184864464466486448444546546844465568附录A(资料性附录)器件参数特性重估11附录B(资料性附录)应力配平22附录C(资料性附录)参数一致性评估31附录D(资料性附录)更高装配级测试37参考义献40
