GB/T26218.1-2010目次前言1范围和目的12规范性引用文件13术语和定义、缩咯语24建议的绝缘子选择和尺寸确定方法45绝缘子选择和尺寸确定的输入参数6系统要求67环境条件8现场污秽度的评定89绝缘选择和尺寸确定12附录A(资料性附录)设计方法流程图16附录B(资料性附录)污秽闪络机理19附录C(规范性附录)ESDD和NSDD的测量21附录D(规范性附录)B类污秽度的评定26附录E(规范性附录)试验室试验方法的使用28附录F(规范性附录)人工污秽试验污秽度和接收准则的非随机法和统计法29附录G(资料性附录)收集污秽地区绝缘子性能信息的调查表举例31附录H(资料性附录)形状因数34附录1(资料性附录)爬电比距和统一爬电比距(USCD)间的关系35附录J(资料性附录)本部分章条编号与1EC/TS60815-1:2008章条编号对照36附录K(资料性附录)本部分与1EC/TS60815-1:2008技术差异及其原因37参考文献39