ICS01.040.37:37.020N33B中华人民共和国国家标准GB/T23414-2009/IS022493:2008微束分析扫描电子显微术术语Microbeam analysis-Scanning electron microscopy-Vocabulary(ISO22493:2008,DT)2009-04-01发布2009-12-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布
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