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氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第16部分X射线荧光光谱分析法测定元素含量 YST 581.16-2008.pdf

上传人:la****1 文档编号:2553476 上传时间:2023-07-12 格式:PDF 页数:8 大小:994.67KB
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1、YS/T581.16-2008w=aI+b,十c式中:,一试样中元素i的含量:I,一元素i的X射线强度;a、b、c一校正曲线常数。8精密度8.1重复性在重复性条件下获得的两次独立测试结果的测定值,在以下给出的平均值范围内,这两个测试结果的绝对差值不超过重复性限(r),超过重复性限(r)的情况不超过5%。重复性限(r)按以下数据采用线性内插法求得:表2组分含量/%重复性限(r)/%组分含量/%重复性限(r)/%56.540.620.0140.00361.460.65Fe:O0.0840.01164.550.680.160.0330.790.180.190.02Al31.990.20so0.600

2、.0433.880.271.670.120.0650.0030.00200.0028Na0.1020.019P:O,0.0270.0031.740.120.1230.0060.00900.0028SiO,0.0200.0040.240.028.2允许差实验室间分析结果的差值不大于下表3所列允许差。表3组分含量范固/%允许差/%组分含量范图/%允许差/%F50.0068.000.700.0300.007Al25.0036.000.30Fe:O0.0300.1000.0150.200.020.100.500.030.202.000.060.500.05Na2.004.000.30SO0.501.000.104.0010.000.401.002.000.150.200.030.0100.002SiO,0.200.400.04P:O;0.010-0.1000.0050.400.600.050.100.300.023

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