1、 NORME INTERNATIONALECEIIEC INTERNATIONAL STANDARD 60749-35Premire ditionFirst edition2006-07 Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 35:Microscopie acoustique pour composants lectroniques botier plastique Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods
2、 Part 35:Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 60749-35:2006 LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997
3、,les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000.Ainsi,la CEI 34-1 devient la CEI 60034-1.Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles.Par exemple,les numros ddition 1.0,1.1 et 1.2 indiquent respectivement la pu
4、blication de base,la publication de base incorporant lamendement 1,et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de l
5、a technique.Des renseignements relatifs cette publication,y compris sa validit,sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous)en plus des nouvelles ditions,amendements et corrigenda.Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comi
6、t dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues,sont galement disponibles par lintermdiaire de:Site web de la CEI(www.iec.ch)Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/searchpub)vous permet de faire des recherches
7、 en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles,par comit dtudes ou date de publication.Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications,les publications remplaces ou retires,ainsi que sur les corrigenda.IEC Just Published Ce rsum des dernires
8、 publications parues(www.iec.ch/online_news/justpub)est aussi dispo-nible par courrier lectronique.Veuillez prendre contact avec le Service client(voir ci-dessous)pour plus dinformations.Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplme
9、ntaires,prenez contact avec le Service clients:Email:custserviec.ch Tl:+41 22 919 02 11 Fax:+41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series.For example,IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated edition
10、s The IEC is now publishing consolidated versions of its publications.For example,edition numbers 1.0,1.1 and 1.2 refer,respectively,to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2.Further information on IEC publication
11、s The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC,thus ensuring that the content reflects current technology.Information relating to this publication,including its validity,is available in the IEC Catalogue of publications(see below)in addition to new editions,amen
12、dments and corrigenda.Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication,as well as the list of publications issued,is also available from the following:IEC Web Site(www.iec.ch)Catalogue of IEC publications T
13、he on-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/searchpub)enables you to search by a variety of criteria including text searches,technical committees and date of publication.On-line information is also available on recently issued publications,withdrawn and replaced publications,as well as corri
14、genda.IEC Just Published This summary of recently issued publications(www.iec.ch/online_news/justpub)is also available by email.Please contact the Customer Service Centre(see below)for further information.Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further as
15、sistance,please contact the Customer Service Centre:Email:custserviec.ch Tel:+41 22 919 02 11 Fax:+41 22 919 03 00.LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.NORME INTERNATIONALECEIIEC INTERNATIONAL STANDARD 60749-35Premire dition
16、First edition2006-07 Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 35:Microscopie acoustique pour composants lectroniques botier plastique Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 35:Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components Pour prix,voir catalogue en vigueur For price,see current catalogue IEC 2006 Droits de reproduction rservs Copyright-all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni