1、ICS37.020N30B中华人民共和国国家标准GB/T12085.10-2010代替GB/T12085.10一1989光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验Optics and optical instruments-Environmental test methods-Part 10:Combined sinusoidal vibration and dry heat or cold(IS09022-10:1998,MOD)2011-01-14发布2011-05-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T12085.1
2、0-2010光学和光学仪器环境试验方法第10部分：振动（正弦）与高温、低温综合试验1范围本部分规定了振动（正弦）与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本试验目的是研究试样的光学，热学、化学和电气等性能受振动（正弦）与高温、低温的影响时的变化程度。2规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最
3、新版本适用于本部分。GB/T2423.35电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动（正张）综合试验(GB/T2423.35一2005，IEC60068-2-50:1983,IDT)GB/T2423.36电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BF：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验(GB/T2423.36一2005，IEC60068-2-51:1983,1DT)GB/T2423.43电工电子产品环境试验第2部分：试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装(GB/T2423.43一2008，IEC60068-2-47:2005,
4、IDT)GB/T2424.22电工电子产品基本环境试验规程温度（低温、高温）和振动（正弦）综合试验导则(GB/T2424.22一1986，eqy IEC60068-2-53:1984)GB/T12085.1光学和光学仪器环境试验方法第1部分：术语、试验范围(GB/T12085.1一2010,IS09022-1:1994,MOD)GB/T12085.2光学和光学仪器环境试验方法第2部分：低温、高温，湿热(GB/T12085.2一2010,IS09022-2:2002,M0D)GB/T12085.3光学和光学仪器环境试验方法第3部分：机械作用力(GB/T12085.3一2010,IS09022-3:1998,MOD)3试验条件在综合作用力条件下对暴露的试样进行的测试，要比任何一种单一环境条件试验更为严酯。表1与表3中规定的温度值选自GB/T12085.2,条件试验方法10和11。试验应按GB/T12085.3的要求进行。固定试样的装置应符合GB/T2423.43的要求，且应隔热。若试样装在缓冲器上，则应考虑缓冲器元件恒温的时间。4条件试验4.1总则试样各部分都应达到试验箱（室）温度3K以内才开始试验。对于散热型试样，在温度稳定的试验