1、GB/T5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构测定方法1范围GB/T5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T9530一1988电子陶瓷名词3术语和定义GB/T9530一1988界定的以及下列术语
2、和定义适用于本文件。3.1显微结构microstructure晶相（主晶相、次晶相）、玻璃相、气相、晶界等的组成、形态、大小、数量、种类、分布、均匀度、缺陷、相间物质等的在空间上的相互排列和组合关系。3.2晶相crystal phase在多相系统中由品体构成的部分3.3气孔pore存在于陶瓷体中的小孔。与大气连通的称开口气孔，封闭的称闭口气孔，包在品粒内部的称晶内气孔，处在晶粒之间的称晶间气孔。3.4玻璃相glass phase在多相系统中由玻璃态构成的部分。它是由主要组分、添加物和杂质等熔融后凝结而成。4样品的制备样品尺寸酌情而定。对于小尺寸样品，可以直接采用单面磨制：一般样品可取10mm10mm5mm(长宽厚)或$10mm5mm,并根据分析要求磨制成下列任何一种试样：1
