1、GB/T7991.5-2014前言GB/T7991搪玻璃层试验方法分为10个部分：第1部分：耐碱性溶液腐蚀性能的测定：-第2部分：耐沸腾酸及其蒸气腐蚀性能的测定；第3部分：耐温差急变性：第4部分：耐机械神击：第5部分：用电磁法测量厚度；第6部分：高电压试验：第7部分：平均线热膨胀系数的测定：第8部分：抗划伤性能的测定：第9部分：抗拉强度的测定；第10部分：铅、镉溶出量的测定。本部分为GB/T7991的第5部分。本部分按照GB/T1.1一2009给出的规则起草。本部分代替GB/T7991一2003搪玻璃层厚度测量电磁法，与GB/T7991一2003相比，主要技术变化如下：一取消原标准3.1有关糖
2、玻璃层厚度对测量精度有影响的内容：一增加校准用基体金属应经过模拟烧成过程热处理的要求：增加表面有锈蚀的金属基体不能用于校准的要求。本部分由中国石油和化学工业联合会提出。本部分由全国搪玻璃设备标准化技术委员会(SAC/TC72)归口。本部分起草单位：浙江正理生能科技有限公司、沈阳市东华检测仪器厂、广州特种承压设备检测研究院、浙江经纬集团环保工程有限公司、化学工业非金属材料和设备质量监督检验中心。本部分主要起草人：黄元躬、张品、李茂东、王顺海、桑临春、应仁爱、张术宽、笪菁。本部分所代替标准的历次版本发布情况为：-GB/T7991-1987、GB/T7991-2003。GB/T7991.5-2014
3、搪玻璃层试验方法第5部分：用电磁法测量厚度1范围GB/T7991的本部分规定了磁性基体上的糖玻璃层厚度的测量方法。本部分适用于磁性基体搪玻璃设备搪玻璃层厚度的测量。2原理用电磁法测量通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化而得到覆盖层的厚度。3影响测量精度的因素3.1基体金属的磁性磁性测厚仪受基体金属磁性变化的影响（低碳钢的磁性变化可以认为是轻微的），为了避免热处理和冷加工因素的影响，应用与被测件基体金属具有相同性质的标准样来校准仪器。最好用经模拟烧成过程热处理的未搪玻璃前的金属基体来校准。3.2基体金属厚度每种仪器都对被测件的基体金属有一个临界厚度的要求，超过这个厚度，测定值不会受到基体金属厚度增
4、加的影响。如果仪器制造厂未提供本台仪器的临界厚度值，应通过试验确定。3.3边缘效应被测件表面形状的突变会影响磁性测厚仪的准确性。因此，太靠近被测件边缘或拐角处的测试数据是不可靠的，除非该仪器针对上述条件做了校准。这种影响可能延伸到距边角15mm处。3.4曲率被测件的曲率半径越小，影响越显著。这与仪器的类型有相当大的关系。用双极测头的测厚仪测量时，测头与圆柱体轴向平行放置或垂直放置，读数会不同。单极测头要是测头发生了不规则磨损，也会产生类似的现象。因此，在弯曲试样上测量前仪器要针对这种情况进行专门校准，否则，测量数据不可靠。3.5表面粗糙度如果在被测件粗糙表面上同一参考面积内所测得的一系列数值明
5、显地超过仪器固有的重现性，则在某一点测量的次数至少应增加到5次。3.6基体金属机加工方向用双极测头或被磨损不平整的单极测头的仪器测量时，仪器读数会受到磁性基体金属机械加工（如1GB/T7991.5-2014金属的下面，使测量结果与基体金属的厚度无关4.3.4检测有曲率的搪玻璃件时，用于校准的标准片或校准箔金属基体的曲率应与被测件曲率相同。4.3.5表面有锈蚀的金属基体不能用于校准。5检测方法5.1概述每台仪器应按说明书操作，在测量时，要注意第3章中所列出的影响测量准确性的各种因素每次测量前，要对仪器进行校准。中断使用或使用一段时间，要对仪器进行校准，以保证测量的准确性。测量时，要注意以下影响测
6、量准确性的因素。5.2基体金属厚度确定被测件基体金属厚度是否超过了临界厚度。如果没有，应按4.3.3所述方法校准和测量。5.3边缘效应不要在靠近被测件形状突变区域的附近进行测量，例如被测件的边缘、孔、拐角处，除非仪器针对以上特殊情况做了专门的校准。5.4曲率除非仪器在与被测件有相同曲率的标准样上进行了校准，否则，不要在被测件曲面上进行测量。5.5测量次数在每一测量区域内应做多次测量，对于搪玻璃层厚度局部差异较大，或者基体金属表面粗糙时更应如此。5.6机械加工方向如果基体金属机械加工方向对仪器读数有显著影响时，双极测头方向应与校准时相同。或者在同一点测量4次，每次将测头旋转90。5.7剩磁如果被测件基体金属中存在剩磁，用双极测头的磁性测厚仪测量时，在某一测量点，测头必须旋转几个90，进行多次测量。为了测量结果准确，可对被测件进行消磁。5.8表面清洁度测量前，应把搪玻璃层表面上的一切杂质，如粉尘、油脂和腐蚀产物清理干净。测量时，要避免在有难以除掉的杂质（如氧化层）处测量。5.9操作技术所测结果的重复性有时取决于检测员的操作习惯，例如，施加于测头的压力会因人而异，由同一个人进行校准和测量能使这种影响减小到最少。在测量时最好用有恒压装置的测头。