1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60749-3Premire ditionFirst edition2002-04Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 3:Examen visuel externeSemiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 3:External visual examinationNumro de rfrenceRefer
2、ence numberCEI/IEC 60749-3:2002LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997,les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000.Ainsi,la CEI 34-1devient la CEI 60034-1.Editi
3、ons consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendements sont disponibles.Parexemple,les numros ddition 1.0,1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base,la publication debase incorporant lamendement 1,et la publication debase incorporant les a
4、mendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique.Des renseignements relatifs cette publication,y compris sa validit,sont dispo-nibles dans le Catalogue
5、 des publications de la CEI(voir ci-dessous)en plus des nouvelles ditions,amendements et corrigenda.Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues,sontgalement disponibles par linte
6、rmdiaire de:Site web de la CEI(www.iec.ch)Catalogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(www.iec.ch/catlg-f.htm)vous permet de faire desrecherches en utilisant de nombreux critres,comprenant des recherches textuelles,par comitdtudes ou date de publication.Des inf
7、ormationsen ligne sont galement disponibles sur lesnouvelles publications,les publications rempla-ces ou retires,ainsi que sur les corrigenda.IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(www.iec.ch/JP.htm)est aussi disponible parcourrier lectronique.Veuillez prendre contactavec le Serv
8、ice client(voir ci-dessous)pour plusdinformations.Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires,prenez contact avec le Serviceclients:Email:custserviec.chTl:+41 22 919 02 11Fax:+41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 Janu
9、ary 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series.Forexample,IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications.For example,edition numbers 1.0,1.1and 1.2 refer,respectively,to the base publi
10、cation,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IEC,thus ensuring thatthe content reflects current technology.Information
11、relating to this publication,including its validity,isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below)in addition to new editions,amendmentsand corrigenda.Information on the subjects underconsideration and work in progress undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublicat
12、ion,as well as the list of publications issued,is also available from the following:IEC Web Site(www.iec.ch)Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(www.iec.ch/catlg-e.htm)enables you to searchby a variety of criteria including text searches,technical committees and dat
13、e of publication.On-line information is also available on recentlyissued publications,withdrawn and replacedpublications,as well as corrigenda.IEC Just PublishedThis summary of recently issued publications(www.iec.ch/JP.htm)is also available by email.Please contact the Customer Service Centre(seebel
14、ow)for further information.Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance,pleasecontact the Customer Service Centre:Email:custserviec.chTel:+41 22 919 02 11Fax:+41 22 919 03 00.LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS
15、LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60749-3Premire ditionFirst edition2002-04Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 3:Examen visuel externeSemiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 3:Ext
16、ernal visual examinationPour prix,voir catalogue en vigueurFor price,see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright-all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique,y compris la photocopie et lesmicrofilms,sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized in anyform or by any means,electronic or mechanical,includingphotocopyi
