1、NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60749-18Premire ditionFirst edition2002-12Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniques et climatiques Partie 18:Rayonnements ionisants(dose totale)Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 18:Ionizing radiation(total dose)N
2、umro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60749-18:2002LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.Numrotation des publicationsDepuis le 1er janvier 1997,les publications de la CEIsont numrotes partir de 60000.Ainsi,la CEI 34-1devient
3、 la CEI 60034-1.Editions consolidesLes versions consolides de certaines publications de laCEI incorporant les amendements sont disponibles.Parexemple,les numros ddition 1.0,1.1 et 1.2 indiquentrespectivement la publication de base,la publication debase incorporant lamendement 1,et la publication deb
4、ase incorporant les amendements 1 et 2.Informations supplmentairessur les publications de la CEILe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique.Des renseignements relatifs cette publication,y compris sa validit,sont dispo-nib
5、les dans le Catalogue des publications de la CEI(voir ci-dessous)en plus des nouvelles ditions,amendements et corrigenda.Des informations sur lessujets ltude et lavancement des travaux entreprispar le comit dtudes qui a labor cette publication,ainsi que la liste des publications parues,sontgalement
6、disponibles par lintermdiaire de:Site web de la CEI(www.iec.ch)Catalogue des publications de la CEILe catalogue en ligne sur le site web de la CEI(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm)vous permetde faire des recherches en utilisant de nombreuxcritres,comprenant des recherches textuelles,parcomit d
7、tudes ou date de publication.Desinformations en ligne sont galement disponibles surles nouvelles publications,les publications rempla-ces ou retires,ainsi que sur les corrigenda.IEC Just PublishedCe rsum des dernires publications parues(http:/www.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)est aussi dis
8、ponible par courrier lectronique.Veuillez prendre contact avec le Service client(voir ci-dessous)pour plus dinformations.Service clientsSi vous avez des questions au sujet de cettepublication ou avez besoin de renseignementssupplmentaires,prenez contact avec le Serviceclients:Email:custserviec.chTl:
9、+41 22 919 02 11Fax:+41 22 919 03 00Publication numberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series.Forexample,IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1.Consolidated editionsThe IEC is now publishing consolidated versions of itspublications.For exam
10、ple,edition numbers 1.0,1.1and 1.2 refer,respectively,to the base publication,the base publication incorporating amendment 1 andthe base publication incorporating amendments 1and 2.Further information on IEC publicationsThe technical content of IEC publications is keptunder constant review by the IE
11、C,thus ensuring thatthe content reflects current technology.Informationrelating to this publication,including its validity,isavailable in the IEC Catalogue of publications(see below)in addition to new editions,amendmentsand corrigenda.Information on the subjects underconsideration and work in progre
12、ss undertaken by thetechnical committee which has prepared thispublication,as well as the list of publications issued,is also available from the following:IEC Web Site(www.iec.ch)Catalogue of IEC publicationsThe on-line catalogue on the IEC web site(http:/www.iec.ch/searchpub/cur_fut.htm)enablesyou
13、to search by a variety of criteria including textsearches,technical committees and date ofpublication.On-line information is also availableon recently issued publications,withdrawn andreplaced publications,as well as corrigenda.IEC Just Published This summary of recently issued publications(http:/ww
14、w.iec.ch/online_news/justpub/jp_entry.htm)is also available by email.Please contact theCustomer Service Centre(see below)for furtherinformation.Customer Service CentreIf you have any questions regarding thispublication or need further assistance,pleasecontact the Customer Service Centre:Email:custse
15、rviec.chTel:+41 22 919 02 11Fax:+41 22 919 03 00.LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60749-18Premire ditionFirst edition2002-12Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais mcaniq
16、ues et climatiques Partie 18:Rayonnements ionisants(dose totale)Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 18:Ionizing radiation(total dose)Pour prix,voir catalogue en vigueurFor price,see current catalogue IEC 2002 Droits de reproduction rservs Copyright-all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd,lectronique ou mcanique,y compris la photocopie et lesmicrofilms,sans laccord crit de
