1、图书在版编目(CP)数据基于失效模式的电子元器件质量控制/李京苑主编.-北京：首都经济贸易大学出版社，2019.5ISBN978-7-5638-2934-7I.基.李.电子元器件一质量控制V.TN60中国版本图书馆CIP数据核字(2019)第063965号基于失效模式的电子元器件质量控制李京苑主编熊盛阳洪鸣姚全斌副主编责任编辑刘元春封面设计风得信阿东FondesyDesign出版发行首都经济贸易大学出版社地址北京市朝阳区红庙（邮编100026）电话(010)659764836506576165071505(传真)网址http:/小E-mail 经销全国新华书店照排北京砚祥志远激光照排技术有限公
2、司印刷北京玺诚印务有限公司开本710毫米1000毫米1/16字数211千字印张12版次2019年5月第1版2019年5月第1次印刷书号ISBN978-7-5638-2934-7/TN3定价68.00元图书印装若有质量问题，本社负责调换版权所有侵权必究2|基于失效模式的电子元器件质量控制的现场失效，长期开展失效分析和质量问题的归零活动，在解决元器件故障的艰难过程中，积累了经验。本书不是对电子元器件质量与可靠性进行系统性研究的书籍，只是结合实际工作，通过对典型案例的分析，介绍航天一院在电子元器件质量控制方面所做的工作。本书的第一章由李京苑、达猛、熊盛阳、李森等负责编写或提供素材；第二章由彭磊、苏磊、周康、赵钺、崔德胜、么东阁、李丹等负责编写或提供素材：第三章由张伟、刘泓、加春雷、王丽妍、许春来、王闯、刘博龙、张晓丽、张佳鑫、陈灏、杨凡等负责编写或提供素材：第四章由张伟、林雄辉、张晖、官岩、卢欣、王慧等负责编写或提供素材：第五章由熊盛阳、张伟、王树升等负责编写或提供素材。全书由李京苑、熊盛阳、洪鸣、姚全斌负责整理、修改、完善。在本书的撰写过程中，虽经多次修改，几易其稿，但因为资料收集不及时，编者水平有限，书中难免有不妥之处，恳请广大读者批评指正。
