1、内容简介本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案篇。基础篇闲述电子元器件失效分析的目的和意义、失效分析程序、失效分析技术以及失效分析主要仪器设备与工具：案例篇按照元器件门类分为九章，即集成电路、微波器件、混合集成电路、分立器件、阻容元件、继电器和连接器、电真空器件、板极电路和其它器件，共计138个失效分析典型案例，各章节突出介绍了该类器件的失效特点、主委失效模式及相关失效机理，提出了预防和控制使用失效发生的必要措施本书具有较强的实用性，可供失效分析专业工作者以及元器件和整机研制、生产单位的工程技术人员使用，也可作为高等学校半导体器件专业的教学参考书。图书在版编目
2、(CP)数据电子元器件失效分析与典型案例/孔学东，恩云飞主编.一北京：国防工业出版社，2006.91SBN7-118-04619-11.电.，.孔.恩.，.电子元件一失效分析W.TN601中国版本图书馆CP数据核字(2006)第072977号园防有多胜产出版发行(北京市海淀区紫竹院南路23号邮郎政编码100044)天利华印刷装订有限公司印刷新华书店经售开本78710921/16印张17字数385千字2006年9月第1版第1次印刷印数1一2500册定价150.00元(本书如有印装错误，我社负责调换】国防书店：(01068428422发行邮购：01068414474发行传真：010,68411535发行业务：010)68472764
