1、 IEC 62374-1Edition 1.0 2010-09INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALESemiconductor devices Part 1:Time-dependent dielectric breakdown(TDDB)test for inter-metal layers Dispositifs semiconducteurs Partie 1:Essai de rupture dilectrique en fonction du temps(TDDB)pour les couches intermtalliques IEC
2、 62374-1:2010 colourinsideCopyrighted material licensed to BR Demo by Thomson Reuters(Scientific),Inc.,downloaded on Nov-28-2014 by James Madison.No further reproduction or distribution is permitted.Uncontrolled when printed.THIS PUBLICATION IS COPYRIGHT PROTECTED Copyright 2010 IEC,Geneva,Switzerla
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