收藏 分享(赏)
下载资源 加入VIP,免费下载

厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf

上传人：g****t 文档编号：2449329 上传时间：2023-06-24 格式：PDF 页数：6 大小：699.36KB
下载 相关 举报
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf_第1页
第1页 / 共6页
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf_第2页
第2页 / 共6页
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf_第3页
第3页 / 共6页
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf_第4页
第4页 / 共6页
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf_第5页
第5页 / 共6页
厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定 GBT 17473.6-1998.pdf_第6页
第6页 / 共6页
亲，该文档总共6页，全部预览完了，如果喜欢就下载吧！
资源描述

GB/T17473.6-1998样进行测量和判定，直到满足8.4条要求为止。9试验报告试验报告应包括下列内容：a)试样编号；b)浆料名称，牌号和状态；c)浆料批号：d)检测结果及检测部门印章；e)本标准号，f)检测人及检测日期。

展开阅读全文
相关资源
猜你喜欢
相关搜索

当前位置：首页 > 专业资料 > 生产制造

copyright@ 2008-2023 wnwk.com网站版权所有

经营许可证编号:浙ICP备2024059924号-2