YS/T869-20134A沸石化学成分分析方法X射线荧光法1范围本标准规定了4A沸石化学成分X荧光分析方法。本标准适用于测定4A沸石化学成分中SiO2、Al2O3、Na2O的含量。测定范围见表1。表1组分SiO2AlOsNazO质量分数/%31.0033.0027.0029.0017.0019.002方法原理试样在1000灼烧2h后，其干基用无水四硼酸锂和偏硼酸锂混合溶剂熔融，以消除矿物效应和粒度效应，并铸成适合X射线荧光光谱仪测量形状的玻璃片，测量玻璃片中待测元素的荧光X射线强度。以各基准物质配制系列标准样片，建立元素含量与其荧光X射线强度之间的标准曲线。试样测量根据系列标准来校正，并依据灼烧失量来计算试样实际含量。3试剂3.1混合溶剂(65Li:BO+25LiBO2+10LiF):分析纯。3.2碘化铵溶液(500g/L)。3.3无水碳酸钠（基准物质）。3.4氧化铝（光谱纯）。3.5二氧化硅（光谱纯）。4仪器4.1铂-金合金埚(95%Pt+5%Au)。注：试样在坩埚中熔融后直接成型，要求埚底面内壁平整光滑，推荐规格：上端内径45mm,下端内径33mm,高25 mm.4.2熔样炉：最高温度1300，控制精度在士15。4.3X射线荧光光谱分析仪：波长色散。4.4高温炉：可控制在1000士10，炉膛能保证空气流动。4.5瓷：30mL。4.6干燥器：内盛硅胶。
