1、NORMEINTERNATIONALEINTERNATIONALSTAN DARDCEIIEC60891Premire ditionFirst edition1987-04Procdures pour les corrections en fonctionde la temprature et de lclairement appliqueraux caractristiques I-V mesures desdispositifs photovoltaques au silicium cristallinProcedures for temperature and irradiancecor
2、rections to measured I-V characteristicsof crystalline silicon photovoltaic devicesIECNumro de rfrenceReference numberCEI/IEC 60891:1987LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.Numros des publicationsDepuis le 1er janvier 1997,l
3、es publications de la CEIsont numrotes partir de 60000.Publications consolidesLes versions consolides de certaines publications dela CEI incorporant les amendements sont disponibles.Par exemple,les numros ddition 1.0,1.1 et 1.2indiquent respectivement la publication de base,lapublication de base inc
4、orporant lamendement 1,et lapublication de base incorporant les amendements 1et 2.Validit de la prsente publicationLe contenu technique des publications de la CEI estconstamment revu par la CEI afin quil reflte ltatactuel de la technique.Des renseignements relatifs la date dereconfirmation de la pub
5、lication sont disponibles dansle Catalogue de la CEI.Les renseignements relatifs des questions ltude etdes travaux en cours entrepris par le comit techniquequi a tabli cette publication,ainsi que la liste despublications tablies,se trouvent dans les documents ci-dessous:Site web de la CEI*Catalogue
6、des publications de la CEIPubli annuellement et mis jour rgulirement(Catalogue en ligne)*Bulletin de la CEIDisponible la fois au site web de la CEI*etcomme priodique imprimTerminologie,symboles graphiqueset littrauxEn ce qui concerne la terminologie gnrale,le lecteurse reportera la CEI 60050:Vocabul
7、aire Electro-technique International(VEI).Pour les symboles graphiques,les symboles littrauxet les signes dusage gnral approuvs par la CEI,lelecteur consultera la CEI 60027:Symboles littraux utiliser en lectrotechnique,la CEI 60417:Symbolesgraphiques utilisables sur le matriel.Index,relev etcompilat
8、ion des feuilles individuelles,et la CEI 60617:Symboles graphiques pour schmas.NumberingAs from 1 January 1997 all IEC publications areissued with a designation in the 60000 series.Consolidated publicationsConsolidated versions of some IEC publicationsincluding amendments are available.For example,e
9、dition numbers 1.0,1.1 and 1.2 refer,respectively,tothe base publication,the base publicationincorporating amendment 1 and the base publicationincorporating amendments 1 and 2.Validity of this publicationThe technical content of IEC publications is kept underconstant review by the IEC,thus ensuring
10、that thecontent reflects current technology.Information relating to the date of the reconfirmation ofthe publication is available in the IEC catalogue.Information on the subjects under consideration andwork in progress undertaken by the technicalcommittee which has prepared this publication,as wella
11、s the list of publications issued,is to be found at thefollowing IEC sources:IEC web site*Catalogue of IEC publicationsPublished yearly with regular updates(On-line catalogue)*IEC BulletinAvailable both at the IEC web site*and as aprinted periodicalTerminology,graphical and lettersymbolsFor general
12、terminology,readers are referred toIEC 60050:International Electrotechnical Vocabulary(IEV).For graphical symbols,and letter symbols and signsapproved by the IEC for general use,readers arereferred to publications IEC 60027:Letter symbols tobe used in electrical technology,IEC 60417:Graphicalsymbols
13、 for use on equipment.Index,survey andcompilation of the single sheets and IEC 60617:Graphical symbols for diagrams.*Voir adresse site web sur la page de titre.?*See web site address on title page.LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPP
14、LY BUREAU.IECNORMEINTERNATIONALEINTERNATIONALSTANDARDCEIIEC60891Premire ditionFirst edition1987-04Procdures pour les corrections en fonctionde la temprature et de lclairement appliqueraux caractristiques I-V mesures desdispositifs photovoltaques au silicium cristallinProcedures for temperature and i
15、rradiancecorrections to measured I-V characteristicsof crxstalline silicon photovoltaic devices IEC 1987 Droits de reproduction rservs Copyright-all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut tre reproduite niutilise sous quelque forme que ce soit et par aucunprocd,lectronique ou mcan
16、ique,y compris la photo-copie et les microfilms,sans laccord crit de lditeur.No part of this publication may be reproduced or utilized inany form or by any means,electronic or mechanical,including photocopying and microfilm,without permission inwriting from the publisher.International Electrotechnical Commission?3,rue de Varemb Geneva,SwitzerlandTelefax:+41 22 919 0300?e-mail:inmail(aiec.Ch?IEC web site http:/www.iec.chCommission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Comm
