1、 IEC 60749-40 Edition 1.0 2011-07 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 40:Board level drop test method using a strain gauge Dispositifs semiconducteurs Mthodes dessais climatiques et mcaniques Partie 40:Mthode dessai de chute au
2、niveau de la carte avec utilisation dune jauge de contrainte IEC 60749-40:2011 colourinsideCopyrighted material licensed to BR Demo by Thomson Reuters(Scientific),Inc.,downloaded on Nov-28-2014 by James Madison.No further reproduction or distribution is permitted.Uncontrolled when printed.THIS PUBLI
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7、zerland Email:inmailiec.ch Web:www.iec.ch About the IEC The International Electrotechnical Commission(IEC)is the leading global organization that prepares and publishes International Standards for all electrical,electronic and related technologies.About IEC publications The technical content of IEC
8、publications is kept under constant review by the IEC.Please make sure that you have the latest edition,a corrigenda or an amendment might have been published.Catalogue of IEC publications:www.iec.ch/searchpub The IEC on-line Catalogue enables you to search by a variety of criteria(reference number,
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10、ectropedia:www.electropedia.org The worlds leading online dictionary of electronic and electrical terms containing more than 20 000 terms and definitions in English and French,with equivalent terms in additional languages.Also known as the International Electrotechnical Vocabulary online.Customer Se
11、rvice Centre:www.iec.ch/webstore/custserv If you wish to give us your feedback on this publication or need further assistance,please visit the Customer Service Centre FAQ or contact us:Email:csciec.ch Tel.:+41 22 919 02 11 Fax:+41 22 919 03 00 A propos de la CEI La Commission Electrotechnique Intern
12、ationale(CEI)est la premire organisation mondiale qui labore et publie des normes internationales pour tout ce qui a trait llectricit,llectronique et aux technologies apparentes.A propos des publications CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu.Veuillez vous assurer q
13、ue vous possdez ldition la plus rcente,un corrigendum ou amendement peut avoir t publi.Catalogue des publications de la CEI:www.iec.ch/searchpub/cur_fut-f.htm Le Catalogue en-ligne de la CEI vous permet deffectuer des recherches en utilisant diffrents critres(numro de rfrence,texte,comit dtudes,).Il
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