1、GB/T31554-2015/1S021968:2005无关。该值既取决于探测器系统的使用频率，也取决于样品材料的导电率和渗透率。在探测器测量范围内，随着厚度的增加，测量不确定度是厚度的函数，也即是近似于恒定分数与这个厚度的乘积。厚度要取几个测量值的平均值，以降低不确定度，特别是在探测器的测量范围下限处。5.2基体材料的电性能基体材料的导电性和渗透性对测量有影响，但比GB/T4957幅敏涡流法的影响小。5.3覆盖层材料的电性能覆盖层材料的电导率影响镀层厚度的测量，覆盖层材料电导率依次取决于材料的成分、涂覆工艺(添加剂、杂质等)和镀后处理，如热处理或机械加工。5.4基体金属的厚度每一台仪器都有一
2、个基体金属的临界厚度，大于这个厚度，测量将不受基体金属厚度增加的影响。由于临界厚度取决于探测器的测量频率和基体金属的电磁性能，因此，临界厚度值应通过实验确定，除非制造商对此有规定。附录A给出了涡流产生和最小基体材料厚度dm的解释。如果缺乏其他资料，量最小基体材料厚度d也可用式(2)计算：d min=2.50048848844844488488448(2）式中：6。一基体材料的标准渗透深度，见式(A1)。5.5边缘效应涡流探测仪对试样表面的轮廓突变敏感，因此，太靠近边缘或内转角处的测量是不可靠的，除非仪器专门为这类测量进行了校准（见6.2.4和附录B)。注：与GB/T4957幅橄涡流法相比，相敏
3、涡流法受试样的边缘效应影响小得多。5.6表面曲率试样的曲率影响测量。曲率的影响因仪器制造和类型的不同而有很大的差异，但总是随曲率半径的减少而更为显著。因此，在弯曲的试样上进行测量是不可靠的，除非针对这类测量作了专门的校准。注：与GB/T4957幅敏涡流法相比，相敏涡流法受试样表面曲率的影响小得多。5.7表面粗糙度基体材料和覆盖层的表面形貌对测量有影响。粗糙表面既能造成系统误差也能造成偶然误差，在不同的位置上作多次测量能降低偶然误差。如果基体材料粗糙，还需要在未涂覆的粗糙基休样品的若干位置校脸仪器的零点。如果没有合适的未涂覆的代表性基体材料，可采用不侵蚀基体的化学溶液除去试样覆盖层后测量。注：与GB/T4957幅敏涡流法相比，相敏涡流法受基体材料和覆盖层粗糙度的彩响小得多。5.8提离效应如果探头没有直接放置在覆盖层上，探头和覆盖层之间的提离效应将会影响到金属镀层厚度测量。使用设计合适的电路和（或）数学运算，测试仪可允许提离效应补偿最大可达1m,用已知厚度的非导体薄垫片插入探头和覆盖层之间，按照制造商操作手册进行提离效应补偿校验。当要透过油漆层来测量金属覆盖层，或必须进行非接触测量，或在探头和覆盖层之间意外出现外来
