1、1CS87.040G50中华人民共和国国家标准GB/T37361-2019/IS0/TS19397:2015漆膜厚度的测定超声波测厚仪法Determination of the film thickness-Ultrasonic thickness gauge methodISO/TS 19397:2015,Determination of the film thickness of coatingsusing an ultrasonic gage,IDT)2019-03-25发布2020-02-01实施国家市场监督管理总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T37361-2019/1S0/TS
2、19397:2015目次前言】范围2规范性引用文件】3术话和定义】4原理5测量方法和应用的物理原理6设备和材料nnn.56.1超声波膜厚测量装置n55555n562耦合剂563校准标准7测量设备的校淮、调整和检查7】校淮57.2调整673检查调整68测定步骤69测量温度的影响10清密度101总则610,2重复性限10,3再现性限.711试验报告附录A(资料性附录)人员资质9附录B(资料性附录)精密度确定.0参考文献的GB/T37361-2019/1S0/TS19397:20153.7声阻抗acoustic impedanceZ材料的密度和声速的乘积。3.8反射系数reflection coef
3、ficient在反射面处总的反射声压和人射声压之比。EN1330-4:2010,定义3.4.11注：波的反射系数R是通过声阻抗(3.7)Z,和边界介质的声阻抗(3.7)Z:米计算的，其中1是传人声音的介质：R-会2若反射系数为负值，将反射信号的相位(3.9)改变180，3.9相位phase一个完整波周期的某个位置，用角度表示。EN1330-4:2010,定义2.2.53.10界面interface声阻抗(3.7)不同的两种介质之间声接触的分界面。EN1330-4:2010,定义3.4.13.11声传播时间sound path travel time声波沿路径传播所需的时间。EN1330-4:2
4、010,定义5.6.33.12耦合剂couplant耦合膜coupling film施加于探头和被测物体之间的使超声波能够顺利通过的介质。EN1330-4:2010,定义5.3.23.13A扫描显示A-scan presentation显示超声波信号，其中X轴以时间表示，Y轴以幅度表示。EN1330-4:2010,定义5.5.16注：超声波膜厚测量装置，除了显示摸厚数值外，通常还显示A扫描以用于检查回波形式和回波顺序，3.14校准calibration在规定条件下的一组操作，其第一步是确定由测量标准提供的量值与相应示值之间的关系，这里测量标准提供的量值与相应示值都有测量不确定度，第二步，通过这个信息就可以知道如何从示值得到测量结果。注1：校准可以用综述、校准函数、校准图、校准曲线或校准表的形式表示，某些情况下，它可以包括对具有测量不确定度的示值的修正，加修正值或乘修正因子。注2：注意避免校准与常被错误称作为“自校准”的测量系统的调整及校准验证相混淆。注3：通常，只把上述定义中的第一步认为是校准。
