1、GB/T20042.3-20094厚度均匀性测试参照GB/T6672一2001中的方法进行测试。4.1测试仪器4.1.1测厚仪:精度为0.1m,用于测试厚度为10m200m的膜厚度。4.1.2卡尺:精度为0.01mm,用于测试膜的长度和宽度。4.2样品制备样品可以为正方形或圆形,有效面积至少为100cm2。样品应无折皱、缺陷和破损。4.3测试方法4.3.1样品在温度为25士2,相对湿度为50%士5%条件下放置12h。注:放置样品的恒温恒湿条件也可由供需双方协商确定。4.3.2每次测量前应校准测厚仪的零点,且在每个试样测量后应重新检查其零点。4.3.3测量时将测量头平级放下,避免样品变形。测试过
2、程测试头施加在样品表面的强度在0.7N/cm22N/cm2之间选取。注:测试过程测试头施加在样品表面的强度为1.75N/cm时,Dupont公司NRE212膜测试厚度为53.5m,4.3.4在温度为252C,相对湿度为50%土5%的恒温恒湿环境中进行测试。每100cm2样品的试点不少于9个,且均匀分布,测试点距离样品边缘应大于5m。4.4数据处理样品的厚度均匀性用厚度最大值与最小值之差以及相对厚度偏差表示。4.4.1最大值与最小值之差按公式(1)计算:d=dms-dmin8093999(1)式中:d一膜的厚度最大值和最小值之差,单位为微米(m):d一膜的厚度最大值,单位为微米(m):d,一膜的
3、厚度最小值,单位为微米(m)。4.4.2平均厚度按公式(2)计算d=d/m式中:d一膜的平均厚度,单位为微米(m):d,一某一点膜的厚度测量值,单位为微米(m):一测量数据点数。4.4.3厚度相对偏差按公式(3)计算:S=(d,-d)/dX100%5(3)式中S一膜的相对厚度偏差;d,一某一点膜的厚度测量值,单位为微米(m):d一膜的平均厚度,单位为微米(m)。取3个样品为一组,计算出平均值作为试验结果。5质子传导率测试5.1测试仪器5.1.1测厚仪:精度不低于0.1m,用于测试厚度为10m200m的膜厚度。2GB/T20042.3-20095.1.2卡尺:精度不低于0.01mm,用于测试膜的
4、长度和宽度,5.1.3电化学阻抗测试仪:阻抗频率范围为(15105)Hz,扰动电压为10mV。5.1.4电导举测量池,见图1。膜样品两侧各放置一聚砜绝缘框作为端板,端板上开有一个方孔(2m2cm),作为膜的有效测试面积,并可以使置于其中的膜与环境的温度、湿度保持一致:在一侧端板内侧放置一块相同尺寸的不导电的塑料薄膜,作为样品的支撑物。并在该端板的两端镶嵌一个镀金薄片和镀金电极导线,作为导电材料,与电化学阻抗测试仪连接。1一聚码绝缘框:2一螺杆,3一平衡开放区:4一膜样品:5一镀金薄片:6一镀金电极导线。图1电导率测量池示意图5.2样品制备截取一定尺寸的膜作为样品,在温度为25土2,相对湿度为5
5、0%土5%的恒温恒湿条件下放置4h。5.3测试方法5.3.1在252,相对湿度为50%土5%的恒温恒湿条件下,利用测厚仪测量样品的厚度,取三点的平均值为计算厚度d的值。5.3.2将样品固定在图1所示的电导率测量池中,并用扭矩扳手以3Nm的扭矩将螺栓拧紧。然后将电导率测量池置于温度为25土2,相对湿度为50%士5%的恒温恒湿环境中。在频*范围为(1210)Hz、扰动电压10mV条件下用电化学阻抗测试仪测得样品的阻抗谱图。5.4数据处理在测得的阻抗谱图中,从谱线的高频部分与实轴的交点读取样品的阻抗值(R),根据公式(4)计算出样品的质子传导苹,G=a/(RXbXd)(4)式中:一样品的质子传导率,单位为西门子每厘米(S/cm):a一两电极间距离,单位为厘米(cm);夕