GB/T17456.1-2009/1S08179-1:2004一用终饰涂层的平均质量（通过试片得到）和密度计算得出。目视检查试片终饰涂层的均匀性。若不均匀，应在试片涂层较薄的区域切下50mm50mm的小片，依据上述方法测定局部最小厚度。局部最小厚度是：一用千分尺测量50mm50mm小片的表面上均匀分布的4个点的读数的平均值，或一用终饰涂层的质量（在50mm50mm小片上得到）通过计算得出厚度。另外，还可以使用合适的测量仪器，如磁性测厚仪，或能显示干、湿厚度相互关系的“湿膜”测厚仪直接在球铁管上测量，也可以使用IS02808中的方法进行测量。注：测量方法由生产厂决定，
