1、RAPPORTCEITECHNIQUEIECTECHNICAL1641Premiere editionREPORTFirst edition1996-01Ensembles dappareillage a basse tensionsous enveloppe-Guide pour Iessai en conditions darcdues a un defaut interneEnclosed low-voltage switchgear and controlgearassemblies-Guide for testing under conditions of arcingdue to
2、internal faultgNumero de referenceReference numberCEI/1EC1641:1996Numeros des publicationsNumberingDepuis le 1er janvier 1997,les publications de la CElAs from 1 January 1997 all IEC publications aresont numerotees a partir de 60000.issued with a designation in the 60000 seriesPublications consolide
3、esConsolidated publicationsLes versions consolidees de certaines publications deConsolidated versions of some IEC publicationsla CEl incorporant les amendements sont disponibles.including amendments are available.For example,Par exemple,les numeros dedition 1.0,1.1 et 1.2edition numbers 1.0,1.1 and
4、1.2 refer,respectively,toindiquent respectivement la publication de base,lathe base publication,the base publication incor-publication de base incorporant Iamendement 1,etporating amendment 1 and the base publicationla publication de base incorporant les amendements 1incorporating amendments 1 and 2
5、.et 2,Validite de la presente publicationValidity of this publicationLe contenu technique des publications de la CEl estThe technical content of IEC publications is kept underconstamment revu par la CEl afin quil reflete letatconstant review by the IEC,thus ensuring that theactuel de la technique.co
6、ntent reflects current technology.Des renseignements relatifs a la date de re-Information relating to the date of the reconfirmation ofconfirmation de la publication sont disponibles dansthe publication is available in the IEC catalogue.le Catalogue de la CEl.Les renseignements relatifs a des questi
7、ons a letude etInformation on the subjects under consideration anddes travaux en cours entrepris par le comite techniquework in progress undertaken by the technical com-qui a etabli cette publication,ainsi que la liste desmittee which has prepared this publication,as well aspublications etablies,se
8、trouvent dans les documentsthe list of publications issued,is to be found at theci-dessous:following IEC sources:Site web de la CEl*IEC web site*Catalogue des publications de la CECatalogue of IEC publicationsPublie annuellement et mis a jour regulierementPublished yearly with regular updates(Catalo
9、gue en ligne)(On-line catalogue)*Bulletin de la CElIEC BulletinDisponible a la fois au site webx de la CEl*Available both at the IEC web site andet comme periodique imprimeas a printed periodicalTerminologie,symboles graphiquesTerminology,graphical and letteret litterauxsymbolsEn ce qui concerne la
10、terminologie generale,le lecteurFor general terminology,readers are referred tose reportera a la CEl 60050:Vocabulaire Electro-EC 60050:International Electrotechnical Vocabularytechnique International(VEI).(IEV),Pour les symboles graphiques,les symboles litterauxFor graphical symbols,and letter symb
11、ols and signset les signes dusage general approuves par la CEl,leapproved by the IEc for general use,readers arelecteur consultera la CEI 60027:Symboles/itterauxareferred to publications IEC 60027:Letter symbols toutiliser en electrotechnique,la CEl 60417:Symbolesbe used in electrical technology,IEC
12、 60417:Graphicalgraphiques utilisables sur le materiel.Index,releve etsymbols for use on equipment.Index,survey andcompilation des feuilles individuelles,et la CEl 60617:compilation of the single sheets and IEC 60617:Symboles graphiques pour schemas.Graphical symbols for diagrams.Voir adresse site w
13、ebx sur la page de titre.See web site address on title pageRAPPORTCEITECHNIQUE TYPE 3IECTECHNICAL1641REPORT-TYPE 3Premiere editionFirst edition1996-01Ensembles dappareillage a basse tensionsous enveloppeGuide pour Iessai en conditions darcdues a un defaut interneEnclosed low-voltage switchgear and c
14、ontrolgearassemblies-Guide for testing under conditions of arcingdue to internal faultCEl 1996 Droits de reproduction reserves-Copyright-all rights reservedAucune partie de cette publication ne peut otre reproduite niNo part of this publication may be reproduced or utilized inutilise sous quekque fo
15、rme que ce soit et par aucun pro%6ales microfilms,sans Taccord crit de rediteur.in writing from the publisher.Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3.rue de Varembe Geneve,SuisseCommission Electrotechnique InternationaleCODE PRIXIECInternational Electrotechnical CommissionP
16、RICE CODEMexayHapoAHaR OneKTpoTexHnveckaR KoMHCCHA三Pour prix.voir catalogue an vigueurFor price,see current catalogue-2-1641CE:1996SOMMAIREPagesAVANT-PROPOS又INTRODUCTION.Articles1Genralites.81.1 Domaine dapplication et objet.81.2 Documents de reference.82Dfinitic0ns.83 Dispositions dessai.103.1 Gene
17、ralites.103.2 Tension.103.3 Courant103.4 Frequence.123.5 Duree deessai.124 Procedure dessai.124.1 Circuit dalimentation.124.2 Amorcage de Parc.124.3 Repetition de Iessai.144.4 Indicateurs(pour observation des effets thermiques des gaz).145Evaluation de lessai.146Rapp0rtdessai.16Figure 1-Cadre de mon
18、tage pour les indicateurs.181641IEC:1996-3-CONTENTSPageFOREWORD.5INTRODUCTION.7Clause1General.91.1 Scope and object.91.2 Reference document.92 Definitions.93 Test arrangements.113.1 General.113.2 Voltage44444444*444*113.3 Current.113.4 Frequency133.5 Duration of the test.134 Test procedure.134.1 Supply circuit.134.2 Arc initiation.134.3 Repetition of the test.154.4 Indicators(for observing the thermal effects of gases).155Assessment of the test.156 Test rep0t.17Figure 1-Mounting frame for indicators.18
