1、ICS31.080.01L40GB中华人民共和国国家标准GB/T20521一2006/IEC60747-14-1:2000半导体器件第14-1部分：半导体传感器总则和分类Semiconductor devices-Part 14-1:Semiconductor sensors-General and classification(IEC60747-14-1:2000,IDT)2006-08-23发布2007-02-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T20521-2006/1EC60747-14-1:20003.5测量范围measuring rang
2、e被测量值的集合，在这个集合范围内，传感器的误差不超出规定的极限范围，见图1。注1：规定的测量范围的上限和下限有时分别被称为“最大能力”和“最小能力”。注2：在一些其他领域，“范围”一词被用来表示最大和最小值之间的差。满刻度输出(FSO)满量程(FSS)零点输出100%测量范国被测量(如压力)图1有零点输出的线性输出传感器的输出与被测量之间的关系3.6零点输出offset除非另有规定，在室温下，传感器在被测量为零时的输出量（见图1）。3.7工作寿命operating life传感器性能的变化不超出规定的偏差范围的最短工作时间。在这段时间内，传感器的工作既可以是连续的，也可以是规定周期的开关循环
3、。3.8输出量output quantity传感器的输出量，通常是电输出量，而且是被测量的函数。注1：输出量的形式包括模拟输出（例如：被测量的连续函数，如电压幅度，电压比和电容量的变化等）。注2：频率输出（即将每秒的周期数或每秒的脉冲数作为被测量的函数）和频率调整输出（即频率相对中心频率的偏移)也是模拟输出的形式。注3：另一种输出形式是数字输出，即以某种编码形式（如二进制代码）的离散量表示被测量。3.9过载（超量程）overload(or overange)在不会引起传感器性能的变化超出规定的偏差的情况下，可以施加在传感器上被测量的最大值。注：过载特性最关键的参数之一是恢复时间，即从传感器上除
4、去过载情况到其性能恢复到规定的馆差范围内所需时间3.10重复性repeatability除非另有规定，在室温下相同的被测量在相同的条件下在同一方向上连续施加在传感器上时，传感器产生重复读数的能力（见图2）。注：重复性可以用两次校准过程中读数的最大偏差来表示（见图2）。通常读作“%下SS”,2GB/T20521-2006/1EC60747-14-1:2000输出重复性迟滞起点0百分比100被测量图2迟滞和重复性3.11分辨率resolution使输出端产生变化所需要的被测量值的最小变化。注：当被测量是从零开始增加时，这个值被称为阀值。3.12选择性selectivity在存在其他被测量时，传感器
5、测量特定量的能力。3.13灵敏度sensitivity传感器输出值的变化与被测量值变化之比。注1：灵敏度即为校准曲线的斜率，对于输出y与被测量x的关系可以用方程y=f(x)表示的传感器，传感器在点T,的灵敏度S(,)为：5(x)=-dy注2：希望传感器有较高且尽可能恒定的灵锁度。如果一个传感器的y与x的关系为：y=kx十，且kb为常数，则传感器在整个量程内的灵敏度为k。如果y与x的关系为：y=kx2十b,则传感器的灵敏度为2kx,且在整个量程内变化.3.14传感器sensor能感受被测量，并能转换成输出量（信号）的器件（装置）。3.15量程Span范围上限值与下限值之间的代数差，适用于被测量和输出量。3.16稳定性stability传感器在一定时间内保特其性能恒定的能力。注：除非另有规定，稳定性是指在规定时间内传感器在恒定的室内条件下产生和初始校准时同样输出的能力。通常表示为与FSS的百分比，3.17响应时间time of response由被测量的阶跃变化引起的传感器输出达到其规定的最终值的百分率所需要的时间。
